咨詢熱線
13819825337
13819825337
產(chǎn)品中心
一切以客戶為中心
為您量身定制解決方案技術(shù)優(yōu)勢
堅持“以用戶為中心、以人才為根本、努力實現(xiàn)你我共贏”的經(jīng)營理念，以我們的誠信的態(tài)度和加倍的努力，與您共同發(fā)展。
堅持服務(wù)至上，質(zhì)量保障，信譽保證，客戶至上的經(jīng)營理念，衷心感謝您的選擇。
對每臺設(shè)備負(fù)責(zé)，對每一位用戶負(fù)責(zé)，竭誠為用戶提供好的、合格的、可靠的產(chǎn)品。
售前、售中、售后完整服務(wù)體系，保障客戶的利益。定期回訪老客戶，聆聽客戶反饋，及時跟進(jìn)。
新聞中心
企業(yè)新聞| CORPORATE NEWS
在半導(dǎo)體制造過程中，光刻膠的去除是關(guān)鍵步驟之一。等離子去膠技術(shù)因其高效、環(huán)保和精確性被廣泛應(yīng)用于這一過程。然而為了進(jìn)一步提升生產(chǎn)效率和產(chǎn)品質(zhì)量，優(yōu)化半導(dǎo)體等離子...
[查看詳情]技術(shù)文章| Technical articles
X熒光膜厚儀（XRF膜厚儀）是一種基于X射線熒光光譜分析技術(shù)的非破壞性檢測設(shè)備，能夠快速、精確地測量材料表面鍍層的厚度及成分。在半導(dǎo)體封裝領(lǐng)域，引線框架（LeadFrame）作為芯片與外部電路連接的關(guān)鍵部件，其表面鍍層（如銀、金、鎳、鈀、錫等）的質(zhì)量和厚度直接影響導(dǎo)電性、焊接性能和耐腐蝕性。以下是X熒光膜厚儀在引線框架鍍層測試中的具體應(yīng)用及優(yōu)勢：一.應(yīng)用場景1.鍍層厚度測量引線框架通常需要多層鍍層（如Ag/Ni/Pd/Au等組合），X熒光膜厚儀可同時測量各鍍層的厚度，無需破壞...
[查看詳情]
公司地址：浙江省寧波市海曙區(qū)氣象路827號
公司郵箱：215398148@qq.com
公司傳真：0574-28820083銷售熱線
在線咨詢
在線咨詢
電話
微信掃一掃
返回頂部